更新時間(jian):2016-11-22
MD-1粒度分(fen)析儀使(shi)用(yong)采用(yong)斯托(tuo)克斯原理爾定律測(ce)定分(fen)布(分(fen)散度)。與常(chang)規方法(fa)相比(bi)省去天平稱重和顯微(wei)鏡數(shu)(shu)數(shu)(shu)等繁雜工作。讀數(shu)(shu)直(zhi)觀,測(ce)定結(jie)果自動儲存(cun),也可由用(yong)戶(hu)根(gen)據需(xu)要選擇(ze),把結(jie)果通(tong)過顯示(shi)屏或打印機輸出。儀器(qi)具(ju)有(you)掉(diao)電(dian)保護功(gong)能,可儲存(cun)40 次粒度分(fen)布數(shu)(shu)據,儲存(cun)的數(shu)(shu)據可根(gen)據用(yong)戶(hu)意(yi)圖進行清除。是粉塵實(shi)驗室使(shi)用(yong)的理想儀器(qi)。
MD-1粒度分析儀使用
采用斯(si)托克斯(si)原理和比(bi)(bi)爾定(ding)律(lv)測(ce)(ce)定(ding)粉塵(chen)粒(li)度(du)分布(bu)(分散(san)度(du))。與(yu)常(chang)規方法相比(bi)(bi)省去天平稱重和顯(xian)微鏡數(shu)數(shu)等繁雜工(gong)作。讀數(shu)直(zhi)觀(guan),測(ce)(ce)定(ding)結果(guo)自動儲(chu)(chu)存(cun),也可(ke)由用戶(hu)根據(ju)需要選擇(ze),把結果(guo)通過顯(xian)示屏或打(da)印機輸出(chu)。儀(yi)器(qi)具有掉電保護功能,可(ke)儲(chu)(chu)存(cun)40 次粒(li)度(du)分布(bu)數(shu)據(ju),儲(chu)(chu)存(cun)的數(shu)據(ju)可(ke)根據(ju)用戶(hu)意圖進(jin)行清除。是(shi)粉塵(chen)實驗室使用的理想儀(yi)器(qi)。
MD-1粒度分析儀使用技術指標:
MD-1
測(ce)定范圍(wei):
(粉塵粒度分布) 0~150μm(測定粉(fen)塵累積質量(liang)篩上分布,粉(fen)塵粒度分級為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定誤差: d<40μm時,粉塵粒度分布重(zhong)復測定誤差≤10%,
測量誤(wu)差: (120004a微粒標準物(wu)質為試(shi)驗粉塵) d50=10~13μm
工作電源(yuan): 220V AC
外(wai)形尺寸: (430×285×300)mm
重 量(liang):15kg