更新時間:2017-01-19
MD-1粉(fen)塵粒(li)(li)度(du)分析儀價格采用(yong)(yong)斯托(tuo)克斯原理和比爾定律測定粉(fen)塵粒(li)(li)度(du)分布(分散度(du))。與常規(gui)方法相比省去天平稱(cheng)重和顯微鏡數數等繁(fan)雜工作。讀數直觀(guan),測定結果自動儲存,也可由(you)用(yong)(yong)戶(hu)根(gen)據(ju)需(xu)要選擇,把結果通過顯示屏或打印(yin)機輸出。儀器(qi)具有掉(diao)電保(bao)護功能,可儲存40 次粒(li)(li)度(du)分布數據(ju),儲存的(de)數據(ju)可根(gen)據(ju)用(yong)(yong)戶(hu)意圖(tu)進行清(qing)除。是粉(fen)塵實驗(yan)室使用(yong)(yong)的(de)理想(xiang)儀器(qi)。
MD-1粉塵粒度分析儀價格
采用斯托(tuo)克斯原(yuan)理和比(bi)爾定(ding)律測定(ding)粉塵粒度分布(分散度)。與常規方法相比(bi)省(sheng)去天平稱(cheng)重和顯(xian)(xian)微鏡數數等繁雜工作。讀數直(zhi)觀,測定(ding)結(jie)果自(zi)動儲存,也可(ke)由用戶根據需要選擇,把結(jie)果通過(guo)顯(xian)(xian)示屏或打印機(ji)輸出。
MD-1粉塵粒度分析儀價格
儀器(qi)具(ju)有(you)掉電保護功能,可儲(chu)存40 次粒度分布數據,儲(chu)存的數據可根據用戶意圖(tu)進行清除。是粉塵(chen)實(shi)驗室使(shi)用的理想儀器(qi)。
MD-1
技術指標:
測定范圍: (粉塵(chen)粒度(du)分布) 0~150μm(測定(ding)粉塵(chen)累積質量篩上分(fen)布,粉塵(chen)粒度分(fen)級為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定(ding)誤差: d<40μm時,粉(fen)塵粒度分布(bu)重(zhong)復測定誤差(cha)≤10%,
測量誤(wu)差: (120004a微粒(li)標(biao)準物質為(wei)試驗粉塵) d50=10~13μm
工作電(dian)源:220V AC
外(wai)形尺寸:(430×285×300)mm
重(zhong) 量:15kg
技術指標(biao):
測定范圍: (粉(fen)塵(chen)粒度分布) 0~150μm(測定粉(fen)塵累積質量篩上(shang)分(fen)布,粉(fen)塵粒度分(fen)級(ji)為(wei)150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定(ding)誤差: d<40μm時(shi),粉塵(chen)粒(li)度分布重(zhong)復測定誤差≤10%,
測量誤差: (120004a微粒(li)標(biao)準物質為試(shi)驗粉塵) d50=10~13μm
工作(zuo)電源(yuan):220V AC
外形尺寸:(430×285×300)mm
重 量:15kg