更新時間:2016-04-15
MD-1粒度粒形分析儀儀(yi)采用(yong)斯(si)托(tuo)克斯(si)原理和(he)比(bi)(bi)爾定(ding)律測定(ding)分布(分散度)。與(yu)常規方法相比(bi)(bi)省去天平稱(cheng)重和(he)顯微鏡數(shu)數(shu)等繁雜工作。讀數(shu)直(zhi)觀(guan),測定(ding)結果自動(dong)儲存,也可(ke)由用(yong)戶根(gen)據(ju)需要選擇,把結果通(tong)過顯示(shi)屏或打印(yin)機輸出。儀(yi)器具有掉電保護功能,可(ke)儲存40 次粒度分布數(shu)據(ju),儲存的數(shu)據(ju)可(ke)根(gen)據(ju)用(yong)戶意圖(tu)進行清除。是粉塵實驗室(shi)使用(yong)的理想儀(yi)器。
MD-1粒度粒形分析儀儀采用(yong)斯(si)(si)托克斯(si)(si)原(yuan)理和(he)比爾定律測定粉塵粒度(du)分(fen)布(分(fen)散度(du))。與常(chang)規(gui)方法(fa)相(xiang)比省(sheng)去天平稱(cheng)重(zhong)和(he)顯微鏡數(shu)數(shu)等繁雜工作。讀(du)數(shu)直觀,測定結果自(zi)動儲(chu)存(cun),也可(ke)由(you)用(yong)戶(hu)根據需要(yao)選擇,把結果通過顯示屏或打印機(ji)輸出。儀器(qi)(qi)具(ju)有掉電保護(hu)功能,可(ke)儲(chu)存(cun)40 次(ci)粒度(du)分(fen)布數(shu)據,儲(chu)存(cun)的(de)數(shu)據可(ke)根據用(yong)戶(hu)意圖進行清除(chu)。是(shi)粉塵實驗(yan)室(shi)使用(yong)的(de)理想儀器(qi)(qi)。
MD-1粒度粒形分析儀技術指標(biao):
MD-1測定(ding)范(fan)圍:(粉塵粒度(du)分(fen)布) 0~150μm(測定粉(fen)塵(chen)累(lei)積質量篩上分(fen)布,粉(fen)塵(chen)粒度分(fen)級為(wei)150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測(ce)定(ding)誤差(cha):d<40μm時,粉塵粒(li)度分布重復測定誤差≤10%,
測量誤(wu)差: (120004a微粒標準物質為試(shi)驗粉(fen)塵) d50=10~13μm
工作(zuo)電源:220V AC
外形(xing)尺寸:(430×285×300)mm
重 量:15kg