更(geng)新(xin)時間:2016-04-15
MD-1顆粒度分析儀采用(yong)斯(si)托(tuo)克斯(si)原(yuan)理和(he)比(bi)爾定(ding)律(lv)測(ce)定(ding)分(fen)布(分(fen)散度(du))。與常規(gui)方法相比(bi)省(sheng)去天平稱重和(he)顯微鏡數(shu)數(shu)等繁雜工(gong)作。讀數(shu)直(zhi)觀,測(ce)定(ding)結果自(zi)動儲(chu)存,也可(ke)由用(yong)戶(hu)根據(ju)需要(yao)選擇,把結果通過顯示屏或打印機輸出。儀器(qi)具(ju)有掉電保護功能(neng),可(ke)儲(chu)存40 次粒度(du)分(fen)布數(shu)據(ju),儲(chu)存的數(shu)據(ju)可(ke)根據(ju)用(yong)戶(hu)意(yi)圖進行(xing)清除。是粉塵實驗室使用(yong)的理想(xiang)儀器(qi)。
MD-1顆粒度分析儀采用斯托克斯原理和比(bi)爾定律(lv)測定粉(fen)塵粒度分布(分散度)。與常規方法相比(bi)省去天(tian)平稱重(zhong)和顯微鏡數(shu)數(shu)等繁雜工作(zuo)。讀數(shu)直觀,測定結果自動儲存(cun)(cun)(cun),也可(ke)由用戶根(gen)據(ju)需要選擇,把結果通過(guo)顯示屏或打(da)印機輸出。儀器具有掉電保護功能,可(ke)儲存(cun)(cun)(cun)40 次粒度分布數(shu)據(ju),儲存(cun)(cun)(cun)的(de)數(shu)據(ju)可(ke)根(gen)據(ju)用戶意圖進行(xing)清(qing)除。是(shi)粉(fen)塵實驗(yan)室(shi)使用的(de)理想儀器。
MD-1顆粒度分析技(ji)術指標:
MD-1測定范圍:(粉(fen)塵粒度分布) 0~150μm(測定(ding)粉塵(chen)累積(ji)質量篩上分(fen)布(bu),粉塵(chen)粒度分(fen)級(ji)為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定誤(wu)差(cha):d<40μm時,粉塵粒度(du)分布重復測(ce)定誤差≤10%,
測(ce)量誤差: (120004a微粒標(biao)準物質(zhi)為(wei)試驗粉塵) d50=10~13μm
工作電(dian)源:220V AC
外形尺(chi)寸:(430×285×300)mm
重 量:15kg